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各領(lǐng)域信息技術(shù)的快速發(fā)展和不斷創(chuàng)新，給電子產(chǎn)業(yè)帶來了巨大的市場需求和發(fā)展空間，從而推動了電子元器件產(chǎn)業(yè)的強勁發(fā)展和不斷智能化，電子元器件的集成化和小型化給電子元器件的外觀檢測帶來了困難。

　　由于視覺檢測速度慢、效率低，加之工人經(jīng)驗、身體狀況等主觀因素，傳統(tǒng)的手工檢測已不能滿足企業(yè)不斷增長的生產(chǎn)能力的需要。如今，隨著計算機技術(shù)的不斷發(fā)展，無錫精質(zhì)基于機器視覺技術(shù)開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件外觀檢測設(shè)備已廣泛應(yīng)用于制藥、包裝、汽車制造等行業(yè)?！　‰娮釉骷娮釉骷庥^檢測設(shè)備可以實現(xiàn)各種檢測、判斷、識別、測量等功能，實現(xiàn)數(shù)字圖像處理技術(shù)的不斷創(chuàng)新和發(fā)展，攝像機、光源等軟硬件設(shè)備為電子元器件外觀的自動檢測提供保障。因此，使用基于機器視覺技術(shù)的電子元器件外觀檢測設(shè)備對企業(yè)來說是非常迫切和關(guān)鍵的。

　　精質(zhì)電子元器件外觀檢測設(shè)備檢測原理

　　精質(zhì)電子元器件外觀檢測設(shè)備利用CCD攝像機將檢測到的目標(biāo)轉(zhuǎn)換成圖像信號，并傳輸?shù)綄Ｓ脠D像處理系統(tǒng)。圖像處理系統(tǒng)根據(jù)像素分布、亮度、顏色等信息將其轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。圖像處理系統(tǒng)對這些信號執(zhí)行各種操作以提取目標(biāo)的特征。

　　產(chǎn)品表面的各種缺陷和缺陷在光學(xué)特性上必須與產(chǎn)品本身不同。當(dāng)光線進入產(chǎn)品表面時，各種缺陷和缺陷會在反射和折射方面表現(xiàn)出與周圍環(huán)境不同的外觀?！　±?，當(dāng)均勻的光垂直入射到產(chǎn)品表面時，如果產(chǎn)品表面沒有缺陷，則發(fā)射方向不會改變，并且檢測到的光是均勻的。當(dāng)產(chǎn)品表面含有缺陷時，發(fā)出的光會發(fā)生變化，檢測到的圖像也會相應(yīng)變化。

　　由于缺陷的存在，缺陷周圍會產(chǎn)生應(yīng)力集中和變形，因此在圖像中很容易觀察到。如果遇到透光缺陷(如裂縫、氣泡等)，光線將在缺陷位置折射，且光強將大于周圍光線。

　　因此，在相機目標(biāo)上檢測到的光將相應(yīng)地增強。吸收性雜質(zhì)，例如沙粒，會減弱缺陷位置的光線，并且在相機目標(biāo)表面上檢測到的光線比其周圍的光線弱。通過分析攝像機采集到的圖像信號的強度和特征，可以得到相應(yīng)的缺陷信息。